Nghiên cứu, khảo sát hình thái học và lực tương tác ở kích thước NANO của bề mặt SiO2, sử dụng thiết bị hiển vi lực nguyên tử LVTN: CK-K1 Nguyễn Đình Tú  

Nghiên cứu, khảo sát hình thái học và lực tương tác ở kích thước NANO của bề mặt SiO2, sử dụng thiết bị hiển vi lực nguyên tử LVTN: CK-K1

Loại tài liệu: Tài liệu giấy - SH:Sách, chuyên khảo, tuyển tập

Tác giả: Nguyễn Đình Tú

Nhà xuất bản: ĐHCNHN

Năm xuất bản: 2013

Tóm tắt nội dung

Tổng quan AFM; phương pháp khảo sát độ nhám; lực bám dính; lực ma sát với AFM; khảo sát đánh giá hình thái học và lực tương tác về mặt mẫu SiO2

Mã ngôn ngữ:vie
Tác giả:Nguyễn Đình Tú
Thông tin nhan đề:Nghiên cứu, khảo sát hình thái học và lực tương tác ở kích thước NANO của bề mặt SiO2, sử dụng thiết bị hiển vi lực nguyên tử LVTN: CK-K1
Xuẩt bản,phát hành:H. ĐHCNHN 2013
Mô tả vật lý:73tr.
Từ khóa:Bề mặt SiO2. Hình thái học. Kích thước NANO. Luận văn Cơ khí. Lực tương tác
Mật khẩu:

(Yêu cầu có hiệu lực trong vòng 02 ngày kể từ ngày gửi yêu cầu)

TỪ KHÓA

Tài nguyên khác